Поставщик | Наименование | Производитель | Цена | Склад | |
OMO ELECTRONIC LIMITED | SN74ABT8952DL yпаковка: 28-SSOP | Texas Instruments | | 2215 | |
Geefook (shenzhen) Electronic Co., Ltd | SN74ABT8952DL Подробнее | Texas Instruments | 7.2$ | 35000 | |
SN74ABT8952DW Подробнее | Texas Instruments | 6.62$ | 35000 | |
SN74ABT8952DWR Подробнее | Texas Instruments | 5.5$ | 35000 | |
SN74ABT8952DLR Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74ABT8952DLRG4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
Icseek Global Limited | SN74ABT8952DW Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8952DL Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8952DWR Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8952DLRG4 Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
HongKong Teyou Huicheng Electronic Technology Limited | SN74ABT8952DW yпаковка: SOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74ABT8952DL yпаковка: TSSOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74ABT8952DWR yпаковка: SOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74ABT8952DLR yпаковка: TSSOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
Digi-ic_SMART PIONEER electronic | SN74ABT8952DL BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8723 | |
SN74ABT8952DW BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8745 | |
SN74ABT8952DWR BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8776 | |
SN74ABT8952DLR IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | 7994 | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | 7992 | |
ООО "АН-ЧИП" | SN74ABT8952DW микросхема интегральная электронная IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23775 | |
SN74ABT8952DL микросхема интегральная электронная IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23950 | |
SN74ABT8952DLR микросхема интегральная электронная IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24780 | |
SN74ABT8952DWR микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23856 | |
SN74ABT8952DWG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24306 | |
SN74ABT8952DLG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24319 | |
SN74ABT8952DWE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24303 | |
SN74ABT8952DWRE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24260 | |
SN74ABT8952DWRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24261 | |
SN74ABT8952DLRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24781 | |
Shenzhen Augswan Electronics Co., LTD. | SN74ABT8952DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 9.2$ | 7919 | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | | 4887 | |
SN74ABT8952DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 5.82$ | 7467 | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | 6.5$ | 4717 | |
SHENZHEN SHENGYU ELECTRONICS TECHNOLOGY LIMITED | SN74ABT8952DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 7.33$ | 4830 | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | | 7745 | |
SN74ABT8952DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 6.68$ | 5631 | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | 4.95$ | 5412 | |
АО "Контест" | SN74ABT8952DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DLG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DLR IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
Acme Chip Technology Co.,Limited | SN74ABT8952DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 6.86$ | 4824 | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | | 6143 | |
SN74ABT8952DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 7.4$ | 6603 | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | 4.95$ | 6608 | |
СИНЕРГИЯ-ДИСТРИБУЦИЯ | SN74ABT8952DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DLR IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8952DW BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER | Rochester Electronics, LLC | | 5930 | |
SN74ABT8952DL BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER | Rochester Electronics, LLC | | 17133 | |
SN74ABT8952DWR BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER | Rochester Electronics, LLC | | | |
ООО "АСПЕКТ" | SN74ABT8952 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DL | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DLG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DLR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DLRG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DW | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWRG4 | | | от 7 дней | |
|
ООО "Интегральные схемы" | SN74ABT8952 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DL | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DLG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DLR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DLRG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DW | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8952DWRG4 | | | от 7 дней | |
CHIP DIGGER LIMITED | SN74ABT8952DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 6.63$ | 5524 | |
SN74ABT8952DLRG4 IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | | 4738 | |
SN74ABT8952DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 7.11$ | 4483 | |
SN74ABT8952DWR IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | 6.97$ | 4623 | |