Интегральные микросхемы  ·  Логика  ·  Специальная логика

74ABTH182646APMG4 — IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP

Производитель	Texas Instruments
Вредные вещества	RoHS   Без свинца
Серия	74ABTH
Логический Тип	Scan Test Device With Transceivers And Registers
Напряжение питания	4.5 V ~ 5.5 V
Рабочая температура	-40°C ~ 85°C
Тип монтажа	Поверхностный монтаж
Корпус	64-LQFP