Поставщик | Наименование | Производитель | Цена | Склад | |
Yee Hing Technology Co., Limit | SN74ABT8646DW | 3880 | | | |
SN74ABT8646DL | 4400 | | | |
SN74ABT8646DLR | 3440 | | | |
Geefook (shenzhen) Electronic Co., Ltd | SN74ABT8646DW Подробнее | Texas Instruments | 7.81$ | 35000 | |
SN74ABT8646DL Подробнее | Texas Instruments | 14.08$ | 261 | |
SN74ABT8646DWR Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74ABT8646DLR Подробнее | Texas Instruments | 8.4352$ | 35000 | |
SN74ABT8646DWRE4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74ABT8646DWRG4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
Atla Semiconductor Asia Limited | SN74ABT8646DL New and Original Stock; yпаковка: N/A; год: 23+24+ | Texas Instruments | | 3828 | |
SN74ABT8646DW New and Original Stock; yпаковка: N/A; год: 23+24+ | Texas Instruments | | 3828 | |
SN74ABT8646DLR New and Original Stock; yпаковка: N/A; год: 23+24+ | Texas Instruments | | 3828 | |
BETTLINK ELECTRONIC LIMITED | SN74ABT8646DW LOGIC, SCAN-TEST-DEV/XCVR, 28SOIC - More Details Подробнее | Texas Instruments | 12.2187$ | 3263 | |
Icseek Global Limited | SN74ABT8646DW Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8646DL Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8646DLR Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8646DWRE4 Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
SN74ABT8646DWRG4 Оригинальный и наличный и новый | TI | | 5130 | |
HongKong Teyou Huicheng Electronic Technology Limited | SN74ABT8646DL yпаковка: TSSOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74ABT8646DW yпаковка: SOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74ABT8646DWR yпаковка: SOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74ABT8646DLR yпаковка: TSSOP28/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
Digi-ic_SMART PIONEER electronic | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | 8683 | |
SN74ABT8646DW SN74ABT8646 SCAN TEST DEVICES WI Подробнее | Texas Instruments | | 8532 | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | 8273 | |
SN74ABT8646DWR IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 7996 | |
SN74ABT8646DWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 7910 | |
SN74ABT8646DWRE4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 7996 | |
DGT Technology (HK) Co., Limited | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP RoHS compliant Подробнее | Texas Instruments | 11.18$ м. опт: 10.2795$ | 10000 | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP RoHS compliant Подробнее | Texas Instruments | 8.3851$ м. опт: 7.9104$ | 10000 | |
ООО "АН-ЧИП" | SN74ABT8646DW микросхема интегральная электронная IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23772 | |
SN74ABT8646DL микросхема интегральная электронная IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23771 | |
SN74ABT8646DWR микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24774 | |
SN74ABT8646DLR микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24258 | |
SN74ABT8646DLG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24295 | |
SN74ABT8646DWG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24297 | |
SN74ABT8646DWE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24296 | |
SN74ABT8646DLRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24259 | |
SN74ABT8646DWRE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24775 | |
SN74ABT8646DWRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24857 | |
Стандарт СИЗ | SN74ABT8646DW Подробную информацию уточняйте у наших менеджеров. | Murata | | Да | |
НТК Мостэк | SN74ABT8646DL /TI/ moq>10000 При стоимости строки от $1000 Вы можете запросить специальную цену! Подробнее | | опт: 1999.53 р. | 8-9 нед. | |
SN74ABT8646DLR /TI/ moq>10000 При стоимости строки от $1000 Вы можете запросить специальную цену! Подробнее | | опт: 1666.38 р. | 8-9 нед. | |
SN74ABT8646DW /TI/ moq>10000 При стоимости строки от $1000 Вы можете запросить специальную цену! Подробнее | | опт: 1666.38 р. | 8-9 нед. | |
АО "Контест" | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8646DLG4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74ABT8646DLRG4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP Подробнее | Texas Instruments | | | |
|
Acme Chip Technology Co.,Limited | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 13.96$ | 7188 | |
SN74ABT8646DLG4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments. | | 7407 | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | 5.95$ | 5913 | |
SN74ABT8646DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 6.09$ | 9862 | |
SN74ABT8646DWR IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Texas Instruments | | 5028 | |
SN74ABT8646DWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | 3284 | |
Shenzhen Augswan Electronics Co., LTD. | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 14.9$ | 7073 | |
SN74ABT8646DLG4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments. | | 7864 | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | 8.21$ | 5035 | |
SN74ABT8646DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 6.39$ | 9910 | |
SN74ABT8646DWR IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Texas Instruments | | 5854 | |
SN74ABT8646DWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | 4171 | |
SHENZHEN SHENGYU ELECTRONICS TECHNOLOGY LIMITED | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 12.88$ | 6120 | |
SN74ABT8646DLG4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments. | | 6084 | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | 8.14$ | 7866 | |
SN74ABT8646DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 7.99$ | 8714 | |
SN74ABT8646DWR IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Texas Instruments | | 7145 | |
SN74ABT8646DWRE4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Texas Instruments | | 6551 | |
SN74ABT8646DWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | 2633 | |
ООО "Интегральные схемы" | SN74ABT8646 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646D | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DL | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DLG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DLR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DLRG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DW | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWRG4 | | | от 7 дней | |
ООО "АСПЕКТ" | SN74ABT8646 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646D | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DL | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DLG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DLR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DLRG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DW | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWG4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWR | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74ABT8646DWRG4 | | | от 7 дней | |
CHIP DIGGER LIMITED | SN74ABT8646DL IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Texas Instruments | 14.63$ | 7286 | |
SN74ABT8646DLG4 IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments. | | 7877 | |
SN74ABT8646DLR IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Texas Instruments | 8.35$ | 5110 | |
SN74ABT8646DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Texas Instruments | 6.54$ | 9600 | |
SN74ABT8646DWR IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Texas Instruments | | 7371 | |
SN74ABT8646DWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Texas Instruments | | 3254 | |