Поставщик | Наименование | Производитель | Цена | Склад | |
Yee Hing Technology Co., Limit | SN74BCT8374ADW | 4660 | | | |
Geefook (shenzhen) Electronic Co., Ltd | SN74BCT8374ANT Подробнее | Texas Instruments | 4.13$ | 35000 | |
SN74BCT8374ADW Подробнее | Texas Instruments | 11.93$ | 75 | |
SN74BCT8374ADWR Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74BCT8374ANTG4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74BCT8374ADWRG4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74BCT8374ADWRE4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
Atla Semiconductor Asia Limited | SN74BCT8374ADW New and Original Stock; yпаковка: N/A; год: 23+24+ | Texas Instruments | | 3828 | |
Icseek Global Limited | SN74BCT8374ADW Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
SN74BCT8374ADWR Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
SN74BCT8374ADWRE4 Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
HongKong Teyou Huicheng Electronic Technology Limited | SN74BCT8374ADW yпаковка: SOP24/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74BCT8374ADWR yпаковка: SOP24/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
Digi-ic_SMART PIONEER electronic | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 8505 | |
SN74BCT8374ANT BUS DRIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8830 | |
SN74BCT8374ADWR IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 8000 | |
SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP Подробнее | Texas Instruments | | 8000 | |
SN74BCT8374ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 7890 | |
SN74BCT8374ADWRE4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 8000 | |
ООО ДВ АТОМ | SN74BCT8374ADW 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ANT 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWR 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ANTE4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWRE 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWG4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWRG 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWE4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
DGT Technology (HK) Co., Limited | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC RoHS compliant Подробнее | Texas Instruments | 11.36$ м. опт: 10.2622$ | 10000 | |
Censtry Electronics Limited. | SN74BCT8374ADW SOIC (DW)-24 Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops | ti | | | |
SN74BCT8374ADWG4 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWE4 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
ООО "АН-ЧИП" | SN74BCT8374ADW микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23941 | |
SN74BCT8374ANT микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24758 | |
SN74BCT8374ADWR микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24756 | |
SN74BCT8374ADWE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24286 | |
SN74BCT8374ANTE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24759 | |
SN74BCT8374ADWG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24287 | |
SN74BCT8374ADWRE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24757 | |
SN74BCT8374ADWRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24866 | |
АО "Контест" | SN74BCT8374ADW Подробнее | | 246.24 р. | 1 | |
SN74BCT8374ADW Подробнее | TEXAS INSTRUMENTS | | | |
SN74BCT8374ADW Подробнее | TEXAS INSTRUMENTS | | | |
SN74BCT8374ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | | |
НТК Мостэк | SN74BCT8374ADW /TI/ moq>10000 При стоимости строки от $1000 Вы можете запросить специальную цену! Подробнее | | опт: 1494.75 р. | 8-9 нед. | |
|
Дельта Электроника | SN 74BCT8374ADW | | 213.76 р. | 1 | |
Shenzhen Augswan Electronics Co., LTD. | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | 12.05$ | 10555 | |
SN74BCT8374ADWR IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | 7559 | |
SN74BCT8374ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 7026 | |
SN74BCT8374ANT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | 3.8$ | 6025 | |
SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | | 4938 | |
Acme Chip Technology Co.,Limited | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | 9.32$ | 14289 | |
SN74BCT8374ADWR IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | 6596 | |
SN74BCT8374ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 5675 | |
SN74BCT8374ANT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | 5.36$ | 5087 | |
SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | | 4402 | |
SHENZHEN SHENGYU ELECTRONICS TECHNOLOGY LIMITED | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | 12.73$ | 14801 | |
SN74BCT8374ADWR IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | 7046 | |
SN74BCT8374ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 6514 | |
SN74BCT8374ANT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | 5.05$ | 5152 | |
SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | | 4104 | |
ООО "ЭНЕРГОФЛОТ" | SN74BCT8374ADW | | 222.3 р. | 1 | |
СИНЕРГИЯ-ДИСТРИБУЦИЯ | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | 14821.12 р. м. опт: 13397.08 р. опт: 12774.92 р. | 235 | |
SN74BCT8374ADWR IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWRE4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ANT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8374ANT BUS DRIVER | Rochester Electronics, LLC | | 825 | |
ООО "Интегральные схемы" | SN74BCT8374A | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADW | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWR | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWRG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374AM | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ANT | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ANTE4 | | | от 7 дней | |
ООО "АСПЕКТ" | SN74BCT8374A | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADW | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWR | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ADWRG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374AM | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ANT | | | от 7 дней | |
SN74BCT8374ANTE4 | | | от 7 дней | |
Элитан | SN74BCT8374ADW@TI Продажи Юрлицам, ИП, Самозанятым, Подотчетникам. Круглосуточно без выходных. Для просмотра цен и заказа нажмите-> Подробнее | | | Да | |
ООО "МК" | SN74BCT244DWR sn74bct8374a - >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | Texas Instruments | 331 р. м. опт: 302 р. | 981 | |
SN74BCT543DWR sn74bct8374a - >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | Texas Instruments | 635 р. м. опт: 607 р. | 888 | |
SN74BCT25245 DW (б/г) sn74bct8374a - л.25 >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | TI | | 394 | |
CHIP DIGGER LIMITED | SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | 9.78$ | 10903 | |
SN74BCT8374ADWR IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Texas Instruments | | 5846 | |
SN74BCT8374ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 5328 | |
SN74BCT8374ANT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | 5.01$ | 6324 | |
SN74BCT8374ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Texas Instruments | | 3856 | |