Поставщик | Наименование | Производитель | Цена | Склад | |
Yee Hing Technology Co., Limit | SN74BCT8244ADW | 2620 | | | |
Geefook (shenzhen) Electronic Co., Ltd | SN74BCT8244ANT Подробнее | Texas Instruments | 5.55$ | 35000 | |
SN74BCT8244ADW Подробнее | Texas Instruments | 13.04$ | 50 | |
SN74BCT8244ADWR Подробнее | Texas Instruments | 4.93$ | 35000 | |
SN74BCT8244ANTG4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
Atla Semiconductor Asia Limited | SN74BCT8244ADW New and Original Stock; yпаковка: N/A; год: 23+24+ | Texas Instruments | | 3828 | |
Icseek Global Limited | SN74BCT8244ADW Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
SN74BCT8244ADWR Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
HongKong Teyou Huicheng Electronic Technology Limited | SN74BCT8244ADW yпаковка: SOP24/7.5MM; год: 22+ | TI | | 45000 | |
SN74BCT8244ADWR yпаковка: SOP24/7.5MM; год: 22+ | Rochester | | 45000 | |
Digi-ic_SMART PIONEER electronic | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 8464 | |
SN74BCT8244ANT BUS DRIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8775 | |
SN74BCT8244ADWR BUS DRIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8795 | |
SN74BCT8244ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP Подробнее | Texas Instruments | | 8000 | |
ООО ДВ АТОМ | SN74BCT8244ADW 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ANT 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWR 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWRE 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWE4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWRG 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWG4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ANTE4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
DGT Technology (HK) Co., Limited | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC RoHS compliant Подробнее | Texas Instruments | 12.42$ м. опт: 11.4143$ | 10000 | |
Censtry Electronics Limited. | SN74BCT8244ADW SOIC (DW)-24 IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers | ti | | | |
SN74BCT8244ADWG4 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWE4 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
ООО "АН-ЧИП" | SN74BCT8244ADW микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24267 | |
SN74BCT8244ANT микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23947 | |
SN74BCT8244ADWR микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24239 | |
SN74BCT8244ADWG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24269 | |
SN74BCT8244ANTE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24313 | |
SN74BCT8244ADWE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24268 | |
SN74BCT8244ADWRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24243 | |
SN74BCT8244ADWRE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 4-5 недель, цена по запросу; yпаковка: N/A; мин. заказ: : 1; год: DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24240 | |
Стандарт СИЗ | SN74BCT8244ADW Подробную информацию уточняйте у наших менеджеров. | Philips | | Да | |
АО "Контест" | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Подробнее | | | | |
SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Подробнее | TEXAS | | | |
SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Подробнее | Texas Instruments | | | |
|
Shenzhen Augswan Electronics Co., LTD. | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 14.05$ | 15196 | |
SN74BCT8244ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments. | | 7486 | |
SN74BCT8244ADWR IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 4.49$ | 10749 | |
SN74BCT8244ANT IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | 5.48$ | 4823 | |
SN74BCT8244ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | | 4049 | |
НТК Мостэк | SN74BCT8244ADW /TI/ moq>10000 При стоимости строки от $1000 Вы можете запросить специальную цену! Подробнее | | опт: 1852.23 р. | 8-9 нед. | |
SHENZHEN SHENGYU ELECTRONICS TECHNOLOGY LIMITED | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments. | 10.44$ | 16358 | |
SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 12.93$ | 15275 | |
SN74BCT8244ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments. | | 6589 | |
SN74BCT8244ADWR IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 4.87$ | 12547 | |
SN74BCT8244ANT IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | 6.86$ | 6484 | |
SN74BCT8244ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | | 4012 | |
Acme Chip Technology Co.,Limited | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 12.18$ | 17219 | |
SN74BCT8244ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments. | | 4895 | |
SN74BCT8244ADWR IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 6.21$ | 10735 | |
SN74BCT8244ANT IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | 6.08$ | 7076 | |
SN74BCT8244ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | | 3265 | |
СИНЕРГИЯ-ДИСТРИБУЦИЯ | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 16203.69 р. м. опт: 14904.08 р. опт: 14281.92 р. | 116 | |
SN74BCT8244ADWR IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ANT IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8244ADW Тестовое устройство сканирования с октальными буферами, 4.5В до 5.5В, SOIC-24 | Texas Instruments | 26884.37 р. м. опт: 23408.91 р. опт: 22444.75 р. | | |
SN74BCT8244ANT BUS DRIVER | Rochester Electronics, LLC | | 6680 | |
SN74BCT8244ADWR BUS DRIVER | Rochester Electronics, LLC | | | |
ООО "Интегральные схемы" | SN74BCT8244A | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244AD | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADW | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWR | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWRG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ANT | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ANTE4 | | | от 7 дней | |
ООО "АСПЕКТ" | SN74BCT8244A | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244AD | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADW | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWR | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWRE4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ADWRG4 | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ANT | | | от 7 дней | |
SN74BCT8244ANTE4 | | | от 7 дней | |
ООО "МК" | SN74BCT244DWR sn74bct8244a - >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | Texas Instruments | 331 р. м. опт: 302 р. | 981 | |
SN74BCT543DWR sn74bct8244a - >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | Texas Instruments | 635 р. м. опт: 607 р. | 888 | |
SN74BCT25245 DW (б/г) sn74bct8244a - л.25 >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | TI | | 394 | |
CHIP DIGGER LIMITED | SN74BCT8244ADW IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 11.31$ | 19672 | |
SN74BCT8244ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments. | | 7823 | |
SN74BCT8244ADWR IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Texas Instruments | 6.1$ | 12899 | |
SN74BCT8244ANT IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | 5.12$ | 5394 | |
SN74BCT8244ANTG4 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Texas Instruments | | 3783 | |